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南京芯測，是一家集研發(fā)制造為一體的半導體國產(chǎn)探針臺，打造晶圓測試系統(tǒng)平臺的自主創(chuàng)新型科技公司。公司一直致力于提供高中端半導體測試自動化設(shè)備，為半導體晶圓級測試測量各領(lǐng)域應用提供解決方案。我們主要為高校、研究所、企業(yè)實驗室提供多項一站式半導體晶圓級測試測量整體系統(tǒng)解決方案。公司集自主研發(fā)、生產(chǎn)和組裝、軟件開發(fā)為一體，為實驗室提供先進高性價比品質(zhì)的探針臺系統(tǒng)。

公司主要標準產(chǎn)品包括：手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、雙面探針臺等可搭載國產(chǎn)及進口儀器儀表將待測器件電學信號穩(wěn)定的傳輸至晶圓表面，主要實現(xiàn) I-V/C-V，PIV，RF，mmW，THz，SiPH，High Power，CIS，SPAD，TLP等電、光學性能的精準測量。我們專業(yè)的研發(fā)工程師也能夠按客戶的要求量身定制探針臺，在原有探針臺功能上進行升級改造來滿足不同高校、研究院、企業(yè)實驗室的測試需求。

南京芯測多年打造半導體晶圓級測試系統(tǒng)集成平臺。公司已為多家研究設(shè)計院、高校提供半導體測試設(shè)備國產(chǎn)化解決方案，以及系統(tǒng)集成的一站式平臺服務。公司的目標是成為半導體先進測試測量系統(tǒng)的高品質(zhì)服務供應商，以滿足國內(nèi)用戶對半導體測試設(shè)備和系統(tǒng)集成軟件的需求。 

南京芯測解決方案已應用在晶圓直流RF測試、射頻微波/毫米波/太赫茲測量、負載牽引、MEMS壓力芯片測量、SPAD晶圓級器件測量、硅光晶圓級測量、CMOS/CIS晶圓級測量、信號完整性雙面PCB測量、高功率器件測試、芯片ESD測試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測設(shè)備等。