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芯片分選機基于最新高新科技設計，可以提供高產(chǎn)出、高精準度的一站式IC測試解決方案，它適合Tray入料，卷帶（Reel）出料的進出料形式，可針對各種封裝形式的IC進行外觀檢測。該設備已經(jīng)取得了很大的技術進步，未來將在設備的每小時產(chǎn)能、適用的芯片封裝種類、換測時間以及系統(tǒng)的穩(wěn)定性等方面取得重要的成果。如今隨著經(jīng)濟的不斷發(fā)展，用工成本越來越高，尤其在產(chǎn)品分級方面，高昂的人工費用讓很多工廠企業(yè)越來越吃不消。自動化分級必將成為未來的大趨勢。反觀目前的重量分選機市場，魚龍混雜，不少有分級...

高低溫探針臺主要用于材料電學表征和測量的微型桌面型電學測量臺，是專為晶片、器件和材料（薄膜、納米、石墨烯、電子材料、超導材料、鐵電材料等）提供真空和高低溫測試條件下進行非破壞性的電學表征和測量平臺。主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學性能表征和測量，還可以在真空、氣氛環(huán)境下對材料進行電學測量評估，是實驗室測量薄膜材料電學材料常備工具，廣泛用于高校、科研、航天航空、軍工院所等領域。性能優(yōu)勢：1、滿足各種溫度的需求：可以滿足非常高的溫度或非常低的溫度的需求，因為晶圓...

emmi微光顯微鏡是利用高增益相機/探測器來檢測由某些半導體器件缺陷/失效發(fā)出的微量光子的一種設備。當對樣品施加適當電壓時，其失效點會因加速載流子散射或電子-空穴對的復合而釋放特定波長的光子。這些光子經(jīng)過收集和圖像處理后，就可以得到一張信號圖。撤去對樣品施加的電壓后，再收集一張背景圖，把信號圖和背景圖疊加之后，就可以定位發(fā)光點的位置，從而實現(xiàn)對失效點的定位。對于故障分析而言，微光顯微鏡是一種相當有用且效率高的分析工具。主要偵測IC內部所放出光子。在IC元件中，EHPRecom...

一、介紹：(1)波形發(fā)生器是一種數(shù)據(jù)信號發(fā)生器，在調試硬件時，常常需要加入一些信號，以觀察電路工作是否正常。用一般的信號發(fā)生器，不但笨重，而且只發(fā)一些簡單的波形，不能滿足需要。(2)例如用戶要調試串口通信程序時，就要在計算機上寫好一段程序，再用線連接計算機和用戶實驗板，如果不正常，不知道是通訊線有問題還是程序有問題。用E2000/L的波形發(fā)生器功能，就可以定義串口數(shù)據(jù)。通過邏輯探勾輸出，調試起來簡單快捷。二、設計原理：1.要求:產(chǎn)生頻率在1HZ--20KHZ幅度0--5V的方...

探針臺溫控是一款溫度范圍-190℃-600℃的溫控探針臺，通過杠桿式支架，使用的是彎針探針。使用時還可對樣品氣氛進行控制。這樣既可以保證，即使在極低溫度下，腔體也不產(chǎn)生結霜影響實驗，又可以防止樣品發(fā)生氧化。相比傳統(tǒng)的直針探針，這種設計不僅點針更準確，而且點針力度更大，和樣品的電接觸性更好。功能特點：1、可編程精密控溫?？瑟毩⒖刂疲部蓮纳衔粰C軟件控制；2、探針需開蓋移動，樣品臺面電接地；3、探針，分別導通冷熱臺外殼上的4個BNC接口；4、杠桿式探針支架，點針力度更大，電接觸性...

MPI探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對芯片進行科研分析，抽查測試等用途。它主要的功能就是針對半導體元件進行檢測，這里面說的半導體元件指的是集成電路，分立器件，光電器件，傳感器等元件以及封裝的測試。通過探針臺配合測量儀器可完成集成電路的電壓，電流，電阻和電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測?？梢赃m用于對芯片進行科研分析，抽查檢測等；可以保證這些半導體元件的質量，縮短研發(fā)時間和器件...

一、頻譜分析儀是研究電信號頻譜結構的儀器，用于信號失真度、調制度、譜純度、頻率穩(wěn)定度和交調失真等信號參數(shù)的測量，可用以測量放大器和濾波器等電路系統(tǒng)的某些參數(shù)，是一種多用途的電子測量儀器。二、工作原理是輸入信號經(jīng)衰減器直接外加到混波器，可調變的本地振蕩器經(jīng)與CRT同步的掃描產(chǎn)生器產(chǎn)生隨時間作線性變化的振蕩頻率，經(jīng)混波器與輸入信號混波降頻后的中頻信號(IF)再放大，濾波與檢波傳送到CRT的垂直方向板，因此在CRT的縱軸顯示信號振幅與頻率的對應關系。三、分類：(1)傳統(tǒng)的頻譜分析儀...

高低溫半自動探針臺是一種用于數(shù)學領域的分析儀器，為晶片、器件和材料（薄膜、納米、石墨烯、電子材料、超導材料、鐵電材料等）提供真空和高低溫測試條件下進行非破壞性的電學表征和測量平臺。在不同測試環(huán)境、不同溫度條件下可對微結構半導體器件、微電子器件及材料進行電學特性表征測試?？梢詫Σ牧匣蚱骷M行電學特性測量、光電特性測量、參數(shù)測量、高阻測量、DC測量、RF測量和微波特性測量，廣泛應用于半導體工業(yè)（芯片、晶圓片、封裝器件）、MEMS、超導、電子學、物理學和材料學等領域。高低溫半自動探...