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射頻探針是我們在片測試時(shí)不可少的工具，它在射頻產(chǎn)品生命周期中幾乎每一個(gè)階段都起著重要作用：從技術(shù)開發(fā)，模型參數(shù)提取，設(shè)計(jì)驗(yàn)證及調(diào)試一直到小規(guī)模生產(chǎn)測試和最終的生產(chǎn)測試。通過使用射頻探針，人們便有可能在晶片層次上測量射頻組件的真正特性。這可以將研究和開發(fā)時(shí)間縮短并且大大降低開發(fā)新產(chǎn)品的成本?；疽蠛凸ぷ髟恚?、射頻探針的50-Ω平面?zhèn)鬏斁€應(yīng)當(dāng)直接與DUT壓點(diǎn)相接觸而不用接觸導(dǎo)線。對于微帶線和隨后的共面探針設(shè)計(jì)，探針的接觸是用小的金屬球來實(shí)現(xiàn)的，這個(gè)金屬球要足夠大以保證可靠且...

ESD測試設(shè)備是專門測量電靜電放電所產(chǎn)生的能量、電壓和電流的儀器，具有以下特點(diǎn)：1、精確性：能夠測量靜電放電所產(chǎn)生的能量、電壓和電流，具有高度的準(zhǔn)確性。2、穩(wěn)定性：檢測結(jié)果穩(wěn)定可靠，能夠長時(shí)間保持穩(wěn)定性。3、多功能性：可以測量不同類型和功率等級的ESD，如人體模擬、直接放電和線間放電等，具有多種測試功能。4、高質(zhì)量：采用高品質(zhì)的材料和先進(jìn)的制造工藝，具有高度的可靠性和耐用性。5、易于使用：操作簡單方便，用戶可以通過簡單的操作完成測試過程。6、自動(dòng)化程度高：具有高度的自動(dòng)化程度...

一、包含有太赫茲有源負(fù)載牽引系統(tǒng)、Maury微波校準(zhǔn)件、Maury微波適配器、微波射頻測試附件、波導(dǎo)轉(zhuǎn)接頭、同軸轉(zhuǎn)接頭、高速調(diào)諧器Tuner、自動(dòng)阻抗調(diào)諧器、負(fù)載牽引、Loadpull、阻抗-MT2000混合信號(hào)有源負(fù)載牽等。二、直流電源的基本功能是提供穩(wěn)定純凈的直流電源，設(shè)置電壓源或電流源，功率分析測量功能，監(jiān)測輸出電壓和電流，輸出電壓、電流、功率變化的高速分析采集記錄輸出電壓波形編輯，負(fù)載變化快速恢復(fù)功能脈沖電源設(shè)置。三、功率計(jì)是射頻信號(hào)功率測量的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。功率計(jì)不能區(qū)分...

探針臺(tái)探針是電測試的接觸媒介，為電子五金元器件。探針臺(tái)可以將電探針、光學(xué)探針或射頻探針放置在硅晶片上，從而可以與測試儀器、半導(dǎo)體測試系統(tǒng)配合來測試芯、半導(dǎo)體器件。這些測試可以很簡單，例如連續(xù)性或隔離檢查。也可以很復(fù)雜，包括微電路的完整功能測試。可以在將晶圓鋸成單個(gè)管芯之前或之后進(jìn)行測試。在晶圓級別的測試允許制造商在生產(chǎn)過程中多次測試芯片器件，這可以提供有關(guān)哪些工藝步驟將缺陷引入產(chǎn)品的信息。它還使制造商能夠在封裝之前測試管芯，這在封裝成本相對于器件成本高的應(yīng)用中很重要。探針臺(tái)還...

ESD測試即靜電放電測試。ESD測試在芯片和系統(tǒng)設(shè)計(jì)中是一項(xiàng)很重要的指標(biāo)，通常暴露在外面的接口更要注意靜電防護(hù)。靜電放電(ESD)是一種自然現(xiàn)象，經(jīng)驗(yàn)表明，人在合成纖維的地毯上行走時(shí)，通過鞋子與地毯的摩擦，只要行走幾步，人體上積累的電荷就可以達(dá)到10-6庫侖以上(這取決于鞋子與地毯之間的電阻)，在這樣一個(gè)"系統(tǒng)"里(人/地毯/大地)的平均電容約為幾十至上百pF，可能產(chǎn)生的電壓要達(dá)到15kV。研究不同的人體產(chǎn)生的靜電放電，會(huì)有許多不同的電流脈沖，電流波形的上升時(shí)間在100ps至...

晶圓探針臺(tái)是在半導(dǎo)體開發(fā)和制造過程中用于檢測晶圓電氣特性的設(shè)備。電氣測試包括通過探針或探針卡將測試信號(hào)從測定器或測試儀發(fā)送到晶圓上的各個(gè)器件，并得到各器件的信號(hào)反饋。這個(gè)時(shí)候，用于晶圓搬送并與事先設(shè)定的位置進(jìn)行接觸的設(shè)備稱為晶圓探針臺(tái)。它能夠滿足12英寸、8英寸晶圓的測試需求，通過高精度定位平臺(tái)、高剛性晶圓承載臺(tái)和高分辨率仰視相機(jī)(探針相機(jī))及俯視相機(jī)(晶圓相機(jī))，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)上下晶圓料片、對針和高精度扎針，與測試機(jī)配合完成對晶圓上集成電路的品質(zhì)檢測。圓測試是在半導(dǎo)體器件制造過...

探針臺(tái)是一種成熟的工具，用于測試硅晶片、裸片和開放式微芯片上的電路和設(shè)備。它允許用戶將電子、光學(xué)或射頻探針放置在設(shè)備上，然后測試該設(shè)備對外部刺激(電子、光學(xué)或射頻)的響應(yīng)。這些測試可以很簡單，例如連續(xù)性或隔離檢查，也可以更復(fù)雜，涉及復(fù)雜微電路的全功能測試。它的應(yīng)用行業(yè)有許多，常見的包括半導(dǎo)體、光電以及集成電路等行業(yè)，半導(dǎo)體企業(yè)不僅有效促進(jìn)了經(jīng)濟(jì)發(fā)展。主要用于半導(dǎo)體材料、微納米器件、磁性材料、自旋電子器件及相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的電、磁學(xué)特性測試，能夠提供磁場或變溫環(huán)境，并進(jìn)行高精度的直...

一、探針臺(tái)從操作上來區(qū)分有：手動(dòng)，半自動(dòng)，全自動(dòng)二、從功能上來區(qū)分有：溫控探針臺(tái)，真空探針臺(tái)(超低溫探針臺(tái))，RF探針臺(tái)，LCD平板探針臺(tái)，霍爾效應(yīng)探針臺(tái)，表面電阻率探針臺(tái)三、經(jīng)濟(jì)手動(dòng)型：(1)根據(jù)客戶需求定制(2)chuck尺寸：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可選)(3)X-Y移動(dòng)行程：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可選)(4)chuckZ軸方向升降10mm(選項(xiàng))方便探針與樣品快速分離(5)顯微鏡：金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡(可選)...